Mecmesin提供电脑控制测试系统MultiTest 2.5-i进行PCB板剥离测试

Cambridge Nanotherm Ltd为电子元器件热管理系统生产一种特别的高科技底座。他们的**技术——nanotherm™在铝基板的表面上创造了一种纳米陶瓷的介电层。金属的印刷电路板（MBPCB）产品利用这一过程提供业界优质的低热阻和显著减少元件的工作温度的能力。导电铜和陶瓷层接合可以使用标准的技术模式，允许客户进行易于制造的设计。 基板粘合性是材料性能的关键因素， 剥离强度以Institute of Printed Circuits 的IPC-TM-650为测试标准。为了适应日益加强的工业标准质量，创新产品，丰富产品，公司需要一种方案来测试帮助他们提供产品的标准。

Mecmesin向Cambridge Nanotherm提供一个单柱电脑控制测试系统结合一个辅助剥离测试台面来准确地进行90度的剥离测试。因为之前用过其它设备做过类似的测试，该公司可以从之前的测试库获取数据，用以校准现行的测试数据，进而验证测试全过程的准确性和适用性。轻量捏夹可以安全地夹持住薄样品的整个宽度，用灵活链节配合水平驱动板面，既避免样品断裂，又确保了十字头行程的垂直，从而在没有震动或添加噪声的情况下完成90度剥离的测量。整个剥离测试以恒速2 ”/min进行，然后得出突出力值的平均值。Emperor™ 软件控制整个测试过程，其编程的灵活性让该公司在需要的情况下进行其它的测试，进而保证其产品的尖端技术和质量。这套内检测系统也能够帮助公司优化设计周期，节约第三方检测成本。

Mecmesin的高级电脑控制拉伸和压缩测试系统MultiTest 2.5-i（2.5 kN）提供强大而全面的拉伸和压缩测试系统，可测量高达2.5 kN的力。MultiTest 2.5-i 具有完整的编程功能和多种分析选项，通过Emperor™软件的强大功能，提供无与伦比的测试多功能性。该系统与Mecmesin的高性能负载单元（ILC）相结合，确保了出色的分辨率和出色的精度。

技术规格：

•压缩测试仪和张力测试

•比较大载荷2500 N（550 lbf）

•十字头移动高达590 mm (23.2")

•比较大样品直径134mm (5.28")

•13 N种不同的传感器容量，从2 N到2500 N（0.45 - 550 lbf）

•负载分辨率为1：6500

•传感器精度为满量程的±0.1％

•速度范围为1 - 1000 mm / min（0.04 - 39.4“/ min），比较高2 kN ；1 - 750 mm / min（0.04 - 30”/ min），高于2 kN

•重量36 kg (79 lb)