REER安全光幕 - 意大利REER测量传感器 Micron MI 300AV

REER测量传感器 Micron用于测量，自动化和控制的光幕，用于工业和民用应用的光幕，需要检测，测量和识别物体。根据物体接合光束的数量和位置，Micron可以向PLC或PC提供实时信息，以便：检测物体的存在与否，执行计数，检测位置，检测形状或轮廓，测量尺寸。

Model MI AV：配备两个带可编程功能的模拟输出（0/10 VDC）和两个可编程数字输出。

odelMI AC：配备两个带可编程功能的模拟输出（4/20 mA）和两个可编程数字输出。

odelMI B：配备带可编程功能的RS 485串行接口和两个可编程数字输出。

odelMI C：配备两个反复固态输出。

REER测量传感器 Micron用于PC的MicronConfigurator软件具有图形用户界面，随每个光幕一起提供（仅限A型和B型）。A型和B型配有M5 4极连接器，用于参数配置和光幕监控。可用的光束间距：5,10,25,30,50和75 mm。控制高度：150 mm ... 3000 mm - 梁间距为10,25,30,50,75 mm的型号; 150 mm ... 1500 mm - 梁间距5 mm的型号。

REER测量传感器 MICRON AV配备两个模拟输出0/10 VDC，带可编程功能和两个可编程数字输出，适用于物体测量和尺寸限制检测。编程接口：M5 4极连接器上的USB接口。

比较大光幕和接口之间的长度连接电缆：100m。

REER测量传感器 Micron MI 1500AV

REER测量传感器 Micron MI 150AV

REER测量传感器 Micron MI 300AV

REER测量传感器 Micron MI 450AV

REER测量传感器 Micron MI 600AV

REER测量传感器 Micron MI 750AV

REER测量传感器 Micron MI 900AV

REER测量传感器 Micron MI 1050AV

REER测量传感器 Micron MI 1200AV

REER测量传感器 Micron MI 1350AV

REER测量传感器 Micron MI 150AC

REER测量传感器 Micron MI 300AC

REER测量传感器 Micron MI 450AC

REER测量传感器 Micron MI 600AC

REER测量传感器 Micron MI 750AC

REER测量传感器 Micron MI 900AC

REER测量传感器 Micron MI 1050AC

REER测量传感器 Micron MI 1200AC

REER测量传感器 Micron MI 1350AC

REER测量传感器 Micron MI 1500AC

REER测量传感器 Micron MI 150B

REER测量传感器 Micron MI 300B