Langer放大器 - 德国Langer前置放大器 PA 306 SMA set

Langer EMV-Technik有限公司是一家活跃在电磁兼容领域的，集研究、发展和生产于一体的中型电工公司。LANGER EMV-Technik公司以其电磁兼容专有知识和测量技术展现出在组件和集成电路开发中的新视角和经济高效的工作策略。

Langer扫描仪 定位系统和近场微型探头的分辨率可达60µm，用于定位高分辨率测试系统的定位系统

Langer扫描探头组（30MHz-3GHz）包含三个无源近场探头，用于在研发阶段扫描测量电场和磁场，频率范围为30MHz到3GHz。该探头组的探头可以实现紧贴电子模块测量，从而定位干扰信号源。它们记录受测物的近电场和近磁场的整个图形。该扫描探头组具备外片电流衰减和电屏蔽。扫描探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。探头内部没有50Ω的终端阻抗。扫描探头的测量信号可以通过PA 203或PA 303型前置放大器放大。根据需求生产RFS，LFS，SXS 和XFS型扫描探头。

Langer探测头主要应用于查找干扰源，判定干扰产生的原因；可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度；可以检测磁场耦合的通道，从而调整连接器或者是显示器位置；可以检测PCB附近的磁场环境情况。

Langer前置放大器 PA 306用于放大测量信号，例如来自高分辨率近场探头的微弱信号。 PA 306连接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入，并通过交付中包含的插入式电源单元提供。

PA 203 BNC设置：前置放大器100 kHz至3 GHz

PA 203 SMA套装：前置放大器100 kHz至3 GHz

PA 303 BNC设置：前置放大器100 kHz至3 GHz

PA 303 SMA套装：前置放大器100 kHz至3 GHz

PA 303 N套：前置放大器100 kHz至3 GHz

PA 306 SMA套装：前置放大器100 kHz至6 GHz

Langer主要型号：BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1、SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2、RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251